ESDEMC Technology LLC 由 Wei Huang 于 2011 年 3 月在美國(guó)密蘇里州羅拉創(chuàng)立。ESDEMC 開(kāi)發(fā) ESD 和 EMC 解決方案。公司致力于提供創(chuàng)新、先進(jìn)、高質(zhì)量和具有成本效益的解決方案以及一般咨詢、測(cè)試服務(wù)和定制項(xiàng)目。產(chǎn)品包括充電設(shè)備模型 (CDM) 系統(tǒng)、電纜放電事件 (CDE) 系統(tǒng)、ESD 模擬器、脈沖衰減器、電流探頭、用于射頻發(fā)射/免疫的 TEM 電池、高壓直流電源、定制的高壓/射頻設(shè)計(jì)。ESDEMC Technology 自 2012 年以來(lái)一直是 ESD 協(xié)會(huì)的企業(yè)會(huì)員。

ES640帶電器件模型（CDM）測(cè)試系統(tǒng)支持所有主流CDM測(cè)試方法和標(biāo)準(zhǔn)，在較大的測(cè)試空間內(nèi)實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確定位，最小步進(jìn)jum，測(cè)試空間可定制化環(huán)境控制密封，具有更快的干燥速度，更低的運(yùn)行成本以及更好的測(cè)試重復(fù)性。超寬的測(cè)量帶寬18+GHz校準(zhǔn)的測(cè)量路徑加DSP增強(qiáng)測(cè)試帶寬。配備3臺(tái)高清攝像頭的清晰視覺(jué)。

帶電器件模型（CDM）靜電放電是微電子電路故障的常見(jiàn)原因，相對(duì)較低電壓下的CDM 放電可嚴(yán)重?fù)p壞或毀壞敏感器件，這種情況通常發(fā)生在靜電設(shè)備接觸到不同電位的金屬表面時(shí)，具有極快的上升時(shí)間。

ES640 型帶電器件模型 (CDM) 測(cè)試系統(tǒng)是一種機(jī)械化CDM測(cè)試系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于滿足所有常用CDM測(cè)試方法的要求，允許采用場(chǎng)感應(yīng)空氣放電法(FICDM)和先接觸法(CCDM)兩種方法。該系統(tǒng)包括計(jì)算機(jī)、環(huán)境控制室、精密 XYZ 運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)、不同類型的CDM測(cè)試裝置以及自動(dòng)測(cè)試和數(shù)據(jù)分析軟件。

產(chǎn)品特點(diǎn)

■ 高分辨率攝像頭（多達(dá)三個(gè)）可輕松進(jìn)行針腳校準(zhǔn)

■ 高分辨率運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)（最小分辨率1微米）

■ 允許批量測(cè)試多個(gè)器件

■ 正在申請(qǐng)的CCDM方法可實(shí)現(xiàn)更高的重復(fù)性

■ 特制測(cè)試倉(cāng)可提高干燥裝置的效率

■ 可循環(huán)干燥裝置（成本低于氮?dú)猓?/span>

ES640帶電器件模型（CDM）測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品應(yīng)用

● 用于封裝和晶圓級(jí)測(cè)試的通用帶電器件模型系統(tǒng)

● 支持多種流行的最新CDM方法：

  ANSI/ESDA/JEDEC JS-002 (FICDM)

  AEC Q100-011 Rev-D (2019 Ver. 遵循JS-002)

  AEC Q101-005 Rev-A (2019 Ver. 遵循JS-002)

  ANSI/ESD SP5.3.3 (LI-CCDM, 需要vf-TLP )

  CC-TLP (ESDA SP 待定,需要 vf-TLP )

  RP-CCDM（申請(qǐng)中）

  可以根據(jù)要求提供標(biāo)準(zhǔn)或定制解決方案

  可根據(jù)自動(dòng)CBM（帶電電路板模型）和測(cè)試平面需求定制相應(yīng)尺寸

產(chǎn)品參數(shù)

上海正衡電子科技有限公司shzhtech是一家集儀器儀表的代理銷售，測(cè)試方案的提供，售前售后的技術(shù)支持與儀器儀表的維修為一體的多元化公司。致力于為相關(guān)領(lǐng)域的客戶提供專業(yè)的完整測(cè)試解決方案，技術(shù)培訓(xùn)，維修服務(wù)。